一、基本概述

鐵電分析儀是一種用于測(cè)量鐵電、壓電、熱釋電等電子材料電特性參數(shù)的測(cè)試設(shè)備。

二、工作原理

鐵電分析儀通過(guò)向材料施加可控電場(chǎng)，并測(cè)量其極化響應(yīng)，以獲取材料的電學(xué)性能參數(shù)。工作流程主要包括電場(chǎng)施加、極化測(cè)量、極化曲線(xiàn)記錄、阻抗增益測(cè)量、頻率選擇、電壓控制及數(shù)據(jù)處理等步驟。

三、主要組成

鐵電分析儀基礎(chǔ)包含以下組成部分：

基本單元與FE標(biāo)準(zhǔn)模塊：提供基礎(chǔ)測(cè)試功能與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法。

薄膜探針臺(tái)：用于薄膜樣品的電學(xué)測(cè)試。

高壓放大器：提供測(cè)試所需的高電壓輸出。

樣品測(cè)試盒：用于放置并固定待測(cè)樣品。

激光干涉儀（可選配件）。

四、測(cè)試參數(shù)與范圍

測(cè)試溫度范圍：RT至250℃，-185~550℃，支持更寬溫區(qū)測(cè)試。

測(cè)試電壓范圍：0V至50kV。

測(cè)試頻率范圍：1mHz至1MHz。

五、測(cè)試功能

鐵電分析儀支持多種測(cè)試模式，主要包括：

電滯回線(xiàn)測(cè)試：包括動(dòng)態(tài)、靜態(tài)及初始電滯回線(xiàn)。

脈沖測(cè)試：測(cè)量材料在脈沖電場(chǎng)下的響應(yīng)特性。

漏電流測(cè)試：評(píng)估材料的絕緣性能。

疲勞測(cè)試：研究材料在多次電場(chǎng)循環(huán)下的穩(wěn)定性。

保持力測(cè)試：測(cè)量極化狀態(tài)的保持能力。

印跡測(cè)試：評(píng)估材料極化后的印跡效應(yīng)。

C-V測(cè)試：電容-電壓特性分析。

I-V測(cè)試：電流-電壓特性分析。

壓電性能測(cè)試：如蝴蝶曲線(xiàn)、小信號(hào)d33-V曲線(xiàn)等。

擊穿測(cè)試：擊穿強(qiáng)度測(cè)試。

六、應(yīng)用領(lǐng)域

材料科學(xué)：研究鐵電、壓電、熱釋電等材料的電學(xué)性能。

物理學(xué)：分析材料的電學(xué)、磁學(xué)及熱學(xué)等物理性質(zhì)。

工業(yè)領(lǐng)域：用于電子陶瓷、鐵電傳感器、執(zhí)行器及存儲(chǔ)器等產(chǎn)品的性能測(cè)試與質(zhì)量控制。